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X射线荧光光谱仪的原理是什么？ X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，上海奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪批发商，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种普遍应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得多也普遍，上海奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪批发商。 大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U，上海奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪批发商。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。上海奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪批发商
X射线衍射法，对样品测试收费要远高于红外光谱的。如果你是单纯想测量薄膜的精确厚度，可以用红外光谱法（IR),精确度可达cm^(-1)量级。在红外光谱范围内，1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm. 由于入射到膜的内外层表面的反射光达到一定相位差时会引起干涉，通过薄膜两个表面对红外线的透射-反射-反射光与一次透射光形成的干涉条纹。干涉条纹有三四十个波峰-波谷之多，分布在一定的波长范围内；根据测定结果，利用公式计算出薄膜的厚度。该方法操作简便,测定速度快,应用于实际样品的无损测定,结果满意。 浙江奥林巴斯BTX小型台式XRD生产厂家X射线发生器主要由高压控制系统和X光管组成，它是产生X射线的装置(产生X射线的装置)，。
结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强。 从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。衍射X射线满足布拉格（W.L.Bragg）方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射线的波长；θ是衍射角；d是结晶面间隔；n是整数。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。物质受X射线照射时，可使核外电子脱离原子轨道产生电离。利用电离电荷的多少可测定X射线的照射量，根据这个原理制成了X射线测量仪器。在电离作用下，气体能够导电；某些物质可以发生化学反应；在有机体内可以诱发各种生物效应。
X射线衍射仪工作原理是什么？ x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。 对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。对于非晶体材料，由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序，只是在几个原子范围内存在着短程有序，故非晶体材料的XRD图谱为一些漫散射馒头峰。 X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力，精确的进行物相分析，定性分析，定量分析。普遍应用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅。
X射线衍射分析的应用实例： 1、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面，面积不小于10X10毫米，如果面积太小可以用几块粘贴一起。 2、对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常。因此要求测试时合 理选择响应的方向平面。 3、对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求样品不能简单粗磨，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。 4、粉末样品要求磨成320目的粒度，约40微米。粒度粗大衍射强度低，峰形不好，分辨率低。要了解样品的物理化学性质，如是否易燃，易潮解，易腐蚀、有毒、易挥发。 5、粉末样品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪直销公司有哪些
X射线具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。上海奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪批发商
X射线衍射扩展资料： 1、晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。 2、晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。 3、因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析。上海奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪批发商
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