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一台好的X射线衍射仪应能得到准确(测得的数值与其真值相符)并精确(测量重复性好)的2θ、I及f(x)，需 要考虑下列几个主要技术参数：X射线发生器的稳定度：这不仅关系到所测衍射强度的准确可靠，而且关系到所有部件的准确和稳定，奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪怎么样。现代粉末衍射仪的光源稳定性一般在外电源变化10%以内，输出变化0.01%以内。X射线管的功率：对于密封式X射线管，Cu靶一般为2kw，Ag、Mo、W等靶一般大于2kw，而对Co、Fe、Ni等靶则小于2kw。对于转靶，常用的有12kw和18kw。单色器的效率：应不小于25%。探测器的效率：视品种而异。计数的线性范围：关系到强度测量的准确性，一般在cps。有许多仪器附加了校正软件，宣称可以达到cps。衍射角(2θ)的测量准确度和精确度，奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪怎么样。分辨率：常用的Si(311)衍射峰的半高宽来显示，奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪怎么样。对于一般实验室粉末衍射仪，此值约在0.05°~0.1°之间。X射线衍射仪已成为晶体结构分析等工作的主要方法。奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪怎么样
衍射仪是进行X射线分析的重要设备，主要由X射线发生器、测角仪(测量角度2θ的装置)、记录仪(测量X射线强度的计数装置)和水冷却系统组成。新型的衍射仪还带有条件输入和数据处理系统。X射线发生器主要由高压控制系统和X光管组成，它是产生X射线的装置(产生X射线的装置)，由X光管发射出的X射线包括连续X射线光谱和特征X射线光谱，连续X射线光谱主要用于判断晶体的对称性和进行晶体定向的劳埃法，特征X射线用于进行晶体结构研究的旋转单体法和进行物相鉴定的粉末法。测角仪是衍射仪的重要部分。奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪怎么样X射线衍射是一种通过仪器进行检测的光学分析法。
每种矿物都具有其特定的X 射线衍射图谱。在混合物中，一种物质成分的衍射图谱与其他物质成分的存在与否无关，这就是X 射线衍射做相定量分析的基础。X 射线衍射是晶体的“指纹”，不同的物质具有不同的X 射线衍射特征峰值(点阵类型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的数目、位置等)，结构参数不同则X 射线衍射线位置与强度也就各不相同，所以通过比较X 射线衍射线位置与强度可区分出不同的矿物成分。X 射线衍射仪主要采集的是地层中各种矿物的相对含量，并系统采集各种矿物的标准图谱，包括石英、钾长石、斜长石、方解石、白云石、黄铁矿等近30 种矿物成分，通过矿物成分的相对含量就可以确定岩石岩性，为现场岩性定名提供定量化的参考依据，提高特殊钻井条件下岩性识别准确度。
X射线衍射仪为大型贵重仪器设备，日常维护和保养非常重要，可以延长仪器使用寿命，减少故障，保证仪器正常运行。保证仪器无尘、恒温、防潮、防震、防腐蚀的工作环境。测试完后回收样品，需要用无水乙醇清洁样品架，样品台应定期使用吸耳球清洁干净。定期对高压发生器进行除尘，一年进行一到两次的彻底除尘工作，拆开下机柜外盖，清理掉机柜内部包括电源、电路板等各个部件的灰尘，以免因灰尘引发各种电路或信号故障。.风机长期在室外运行，散热片之间容易积累灰尘形成结垢，会造成水冷机室外机过热保护，应根据情况及时。 只要样品是可以制成粉末的固态样品或者是能够加工出小平面的块状样品，都可以用X射线衍射仪进行分析测试。
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析衍射结果，便可获得晶体结构。以上是1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出的一个重要科学预见，随即被实验所证实。1913年，英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上，不仅成功的测定了NaCl，KCl等晶体结构，还提出了作为晶体衍射基础的公式——布拉格方程：2dsinθ=nλ。X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力，精确的进行物相分析，定性分析，定量分析。应用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。X射线发生器由X射线管、高压发生器、管压和管流稳定电路以及保护电路等组成。奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪怎么样
X射线衍射仪应用于样品的物相定性分析和定量分析、晶粒大小、结晶度测定等。奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪怎么样
X射线衍射仪(XRD)是通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射仪使用注意事项：(1)固体样品表面>10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。(2)对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。(3)对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变)，测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。(4)粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪怎么样
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