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X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器，应用于各大、专院校，科研院所及厂矿企业。作为X射线衍射仪家族中一款颠覆性的产品，与传统台式XRD相比较，X射线衍射仪（XRD）具有以下优势:1、便携式机体小，2.自动化使用样品振动装置，使用简单，3.集成性使用透射几何衍射技术及高灵敏度CCD探测器，4. 微量化检测检测样品只需15mg,尤其适合刑侦、环境、管道腐蚀等难于收集样品的检测分析，奥林巴斯BTX小型台式XRD代理商有哪些，奥林巴斯BTX小型台式XRD代理商有哪些。5.无线传输采用WIFI无线连接，可远程操控及传输采集的数据，奥林巴斯BTX小型台式XRD代理商有哪些，实现数据采集的现场性和数据处理的及时性。衍射仪法以其方便、快捷、准确和可以自动进行数据处理等特点在许多领域中取代了照相法，现在已成为晶体结构分析等工作的主要方法。X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波。奥林巴斯BTX小型台式XRD代理商有哪些
X射线衍射仪（XRD）是材料无损表征的有力工具。运用衍射原理，可实现粉末、块体、薄膜等样品的测试分析，可以精确测定物质的晶体结构，织构及应力，也就是说可以精确的进行物相分析，定性、定量分析及残余应力的分析。X射线衍射分析方法可实现无损的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰强度,衍射峰线形等信息可以进行材料晶体结构的表征,如:点阵常数的精密测定,晶粒尺寸和微观应变计算,宏观残余应力测定,结晶度计算等。X射线衍射仪样品要求：金属、非金属、有机、无机材料粉末、块体、薄膜等样品。奥林巴斯BTX小型台式XRD代理商有哪些X射线衍射仪系统主要由X光管、高压发生器、测角仪、探测器、控制系统、稳压电源、水冷机几大部分组成。
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析衍射结果，便可获得晶体结构。以上是1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出的一个重要科学预见，随即被实验所证实。1913年，英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上，不仅成功的测定了NaCl，KCl等晶体结构，还提出了作为晶体衍射基础的公式——布拉格方程：2dsinθ=nλ。X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力，精确的进行物相分析，定性分析，定量分析。应用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。
对于粉尘中的游离二氧化硅含量的测定目前有焦磷酸法、红外分光光度法或X射线衍射法。传统实验室中，出于现有分析设备和检测成本的考量，通常采用焦磷酸法。但该法由于测定步骤较为繁琐，在检测过程中存在较多不可控因素，导致测量结果精度不甚理想。同时作为化学检测手段，该方法实施过程中涉及酸等一些腐蚀有害的化学试剂以及酸加热等危险操作，给实验人员的安全带来一定风险。另外两种检测方法红外分光光度法和X射线衍射法均属于物理检测手段，但相比于红外分光光度法中涉及的红外光谱仪，X射线衍射仪具有体积小、分辨率高、操作灵活、数据类型多、造价低等相对优势。没有移动部件也促成了XRD分析仪性能可靠，几乎无需维护的优势。
X射线衍射仪的触屏可以显示仪器的工作状态及报警信息，这些信息同时会传递给连着的计算机系统，有计算机系统的控制软件对状态及报警信息进行管理，通过这些信息可以方便的知道仪器的运行状况及故障信息，这些信息使得用户在进行简单的培训之后，就可以对自己的仪器进行常规的维护及维修操作。X射线衍射法是一种利用单色X射线光束照射到一颗晶体或众多随机取向的微小晶体来测量样品分子三维立体结构或特征X射线衍射图谱的检测分析方法。X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析，如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定（晶体结构分析）、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可地测定物质的晶体结构，如：物相定性与定量分析，衍射谱的指标化及点阵参数。X射线发生器是进行X射线衍射实验所不可缺少的、重要的设备之一。奥林巴斯BTX小型台式XRD代理商有哪些
奥林巴斯XRD仪器标配有坚固的钴（Co）靶材X射线管。奥林巴斯BTX小型台式XRD代理商有哪些
单晶取向的测定就是找出晶体样品中晶体学取向与样品外坐标系的位向关系。虽然可以用光学方法等物理方法确定单晶取向，但X衍射法不仅可以精确地单晶定向，同时还能得到晶体内部微观结构的信息。一般用劳埃法单晶定向，其根据是底片上劳埃斑点转换的极射赤面投影与样品外坐标轴的极射赤面投影之间的位置关系。透射劳埃法只适用于厚度小且吸收系数小的样品;背射劳埃法就无需特别制备样品，样品厚度大小等也不受限制，因而多用此方法 。 多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的现象称为织构，常见的织构有丝织构和板织构两种类型。为反映织构的概貌和确定织构指数，有三种方法描述织构：极图、反极图和三维取向函数，这三种方法适用于不同的情况。对于丝织构，要知道其极图形式，只要求出求其丝轴指数即可，照相法和衍射仪法是可用的方法。板织构的极点分布比较复杂，需要两个指数来表示，且多用衍射仪进行测定 。奥林巴斯BTX小型台式XRD代理商有哪些
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