[VIP第1年] 指数:3
表面颗粒度会引起图形缺陷、外延前线、影响布线的完整性以及键合强度和表层质量。颗粒的去除与静电排斥作用有关，所以硅片表面呈正电时，容易降低颗粒去除效率，甚至出现再沉淀。传统的湿法化学清洗中所需要解决的主要问题有：化学片的纯度、微粒的产生、金属杂质的污染、干燥技术的困难、废水废气的处理等。寻求解决上述问题的过程中，发现改用气相清洗技术是一个有效途径。随着微电子新材料的使用和微器件特征尺寸的进一步减小，迫切需要一种更具选择性更环保、更容易控制的清洁清洗技术，IC清洁剂在后道工序中铜引线、焊盘、键合等都需要进行有机污染物的清洗，用湿法清洗也很难达到目的。
现代清洗技术中的关键要求：IC清洁剂在未来90~65nm节点技术工艺中，除了要考虑清洗后的硅片表面的微粗糙度及自然氧化物去除率等技术指标外，也要考虑对环境的污染以及清洗的效率其经济效益等。硅片清洗技术评价的主要指标可以归纳为：微粗糙度（RMS)；自然氧化物去除率；金属沾污、表面颗粒度以及有机物沾污，其他指标还包括：芯片的破损率；清洗中的再沾污；对环境的污染；经济的可接受：包括设备与运行成本、清洗效率)等。金属沾污在硅片上是以范德华引力、共价键以及电子转移等三种表面形式存在的。这种沾污会破坏薄氧化层的完整性，增加漏电流密度，影响MOs器件的稳定性，重金属离子会增加暗电流，情况为结构缺陷或雾状缺陷。
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