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气相色谱仪基线漂移过大怎么办？在气相色谱仪刚启动、色谱柱更换后不久，基线的漂移是正常现象。基线漂移过大是指基线的漂移比正常的标准高很多，并且始终无法稳定下来。一、将火焰熄灭之后如果基线还是漂移很大，要考虑是否电路系统的故障或接触不良、绝缘退化等因素：1.检查检测器和离子信号线是否有接触不良、绝缘退化等现象。使用TCD时，检查TCD的钨丝及引线是否接触不良。2.检查检测器是否被污染，如果污染请进行清洗。3.检查检测器的温度是否正常，必要时对检测器进行老化。4.检查是否离子信号线故障、放大器电路板故障、输出信号线故障、积分仪/工作站故障。色谱仪，就选上海禹重实业有限公司，用户的信赖之选，有想法可以来我司咨询！上海液相色谱仪色谱柱
温度控制系统主要指对气化室、色谱柱、检测器三处的温度控制。在气化室要保证液体试样瞬间气化；在色谱柱室要准确控制分离需要的温度，当试样复杂时，分离室温度需要按一定程序控制温度变化，各组分在温度下分离；在检测器要使被分离后的组分通过时不在此冷凝。控温方式分恒温和程序升温两种。（1）恒温：对于沸程不太宽的简单样品，可采用恒温模式。一般的气体分析和简单液体样品分析都采用恒温模式。（2）程序升温：所谓程序升温，是指在一个分析周期里色谱柱的温度随时间由低温到高温呈线性或非线性地变化，使沸点不同的组分，各在其柱温出，从而改善分离效果，缩短分析时间。对于沸程较宽的复杂样品，如果在恒温下分离很难达到好的分离效果，应使用程序升温方法。上海液相色谱仪色谱柱色谱仪，就选上海禹重实业有限公司，让您满意，期待您的光临！
气相色谱仪使用小妙招：气相色谱仪灵敏度高，可检测出ppm和ppb级的组分含量；高选择性可有效地分离性质极为相近的组分；所需的试样量少，一般气样需要几毫升，液样需要几微升或几十微升；应用范围广，可分析低含量的气、液体，亦可分析高含量的气、液体，可不受组分含量的限制。谱析色谱小编列举了几个仪器的“使用妙招”，一起来看看：1.气相色谱仪应严格地在规定的条件下工作，在某些条件下不符合时必须采取相应措施；2.FID联用标准小口径毛细柱时，毛细柱可插入FID石英喷咀内孔，柱端面略低于喷咀口1-2mm为良好，这样可保证柱效；3.气相色谱仪使用时，务必检查一下微机控制系统机架右面下方的TCD桥电流钮子开关状态，应处在正确的位置，例如使用FID时，钮子开关应放在桥电流断开位置；否则在面板按键操作时一不小心误按TCD桥流按键，就会造成TCD热导元件的损坏；4.热导检测器的操作必须严格遵守热导检测器先通载气后通热导恒流源的操作原则。在长期停机后重新启动操作时，应先通载气15分钟以上，然后检测器通电，以保证热导元件不被氧化或烧坏；
光离子化检测器(PID)用于对有毒有害物质的痕量分析色谱检测器分类；（1）按原理可分为光学检测器(如，紫外、荧光、示差折光、蒸发光散射)、热学检测器(如，吸附热)、电化学检测器(如，极谱、库仑、安培)、电学检测器(电导、介电常数、压电石英频率)、放射性检测器(闪烁计数、电子捕获、氦离子化)以及氢火焰离子化检测器。（2）按测量性质可分为通用型和专属型(又称选择性)。通用型检测器测量的是一般物质均具有的性质，它对溶剂和溶质组分均有反应，如示差折光、蒸发光散射检测器。通用型的灵敏度一般比专属型的低。专属型检测器只能检测某些组分的某一性质，如紫外、荧光检测器，它们只对有紫外吸收或荧光发射的组分有响应。（3）按检测方式分为浓度型和质量型。浓度型检测器的响应与流动相中组分的浓度有关，质量型检测器的响应与单位时间内通过检测器的组分的量有关。（4）检测器还可分为破坏样品和不破坏样品的两种。色谱仪，就选上海禹重实业有限公司，让您满意，欢迎您的来电！
进样针使用小技巧1.扎针时感觉进样垫较紧,则注样后拔针可快;若扎针时感觉进样垫较松,则注样后拔针可慢点;一般教学时要求三快;但熟练后自己掌握。2.马上拔出。进样量要少，可以保证峰形好看些。注意进样器中不要留有气泡，慢吸，快打，将气泡排出;3.进样前多抽吸几次排尽气泡，进样时快进快出，针扎进去的位置去的位置尽量固定，至于进样后按start时间，不需要特别快，只要保 证你每次扎完按start的时间间隔一致就可以;4.动作要干净利落，不能迟疑停顿。进样时快进快出，保证你每次扎完后立即按start启动数据采集，这样可以保证保留时间的尽可能一致;5.两者都可以，只是同一批次需要采用同一种方式尽可能的保证进样均衡。有一种说法认为进样后即刻 可以起到一种类似搅拌的作用，在进样器内使样品汽化更均匀，可以降低分流歧视效应;上海禹重实业有限公司为您提供色谱仪。上海高效液相色谱仪耗材
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气相色谱仪分析仪器原理介绍禹重分享：动态热-力分析：缩写：DMA；分析原理：样品在周期性变化的外力作用下产生的形变随温度的变化；谱图的表示方法：模量或tgδ随温度变化曲线；提供的信息：热转变温度模量和tgδ。透射电子显微术：缩写：TEM；分析原理：高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成衬度，显示出图象；谱图的表示方法：质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象和分子象；提供的信息：晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等。上海液相色谱仪色谱柱
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